Höhere Zuverlässigkeit für Elektronik der nächsten Generation

Höhere Zuverlässigkeit für Elektronik der nächsten Generation

05.02.2021

Bild: ein Mann in weißem Kittel steht in einem Labor und baut ein Experiment auf; Copyright: Fraunhofer IWS Dresden

Wissenschaftler Christopher Taudt arbeitet an einem Aufbau zur optischen Analyse von Wafern in der Reinraumstrecke des Fraunhofer AZOM.

Produkte und Aussteller rund um elektronische Komponenten

Bild: eine Platine wird mit einem Schraubendreher bearbeitet; Copyright: PantherMedia / Sergiy Tryapitsyn