Maßgeschneiderte Spitzen für Rasterkraftmikroskope --

Maßgeschneiderte Spitzen für Rasterkraftmikroskope

18.08.2016

Bild: Vergrößerte Darstellung einer Sondenspitze; Copyright: KIT

Optimal an spezielle Anforderungen angepasste Sondenspitzen für Rasterkraftmikroskope können nun am KIT mittels Nano-3D-Druck hergestellt werden; © KIT