10.05.2010

IVAM Research

Selbstoptimierendes & hochauflösendes AFM

Atomic Force Microscopy (AFM) erforderte bis heute hohen Zeitaufwand und Erfahrung bei der Bedienung, um hohe Abbildungsqualität und zuverlässige Daten zu erzielen. Veeco hat den neuen Abbildungsmodus ScanAsyst entwickelt, der in Echtzeit die tatsächliche Spitze/Probewechselwirkung bestimmt und damit die Abbildungsparameter selbstständig optimieren kann.

Nahezu jeder kennt das Bild, welches sich bietet, wenn AFM Nutzer wie gebannt vor dem Monitor sitzen und „klavierspielend“ versuchen, die Parameter zu optimieren, damit Trace und Retrace sich decken und brillante Bilder entstehen. Heute können sie sich bereits mit der Analyse der Bilder beschäftigen, während der ScanAsyst-Modus ohne ein Eingreifen des Operators bereits das nächste Bild aufnimmt. Mit dieser Erfindung kann aber nicht nur das Topographiebild automatisch optimiert werden. PeakForce QNM verwendet gezielt die Spitze/Probewechselwirkung, um gleichzeitig Materialeigenschaften wie Steifigkeit und Adhäsion auszuwerten und darzustellen – Daten, die sich mit etablierten Verfahren wie Force Volume Imaging nur mit großem Zeitaufwand gewinnen lassen. Mit der Produktneuheit von Veeco ist es somit nicht nur einfacher, hochauflösende Bilder aufzunehmen, auch probenrelevante Informationen können deutlich schneller als bisher geliefert werden.