10.09.2010

Veeco Instruments

NP Flex

Das Messen der Oberflächentextur, -rauheit, -welligkeit, -krümmung und -neigung mit sub-Nanometer Genauigkeit an großen Proben erfolgt mit dem neuen optischen 3D-Oberflächenprofilometer NPFLEX ohne diese zerstören zu müssen. Basierend auf der berührungslosen Weisslichtinterferometrie wurde das NPFLEX speziell für die Untersuchung von großen und unhandlichen Proben entwickelt und besteht aus einer offenen Brückenkonstruktion, die uneingeschränkten Zugang und kundenspezifische Fixierungen ermöglicht.